技术简介
浅地层剖面仪（sub-bottomprofiler）是利用声波探测水底浅层剖面地质结构的仪器，能够对海洋、江河、湖泊底部地层进行剖面显示，结合地质解释，可以探测到水底以下地质构造情况。该仪器在地层分辨率和地层穿透深度方面有较高的性能，并可以任意选择扫频信号组合，现场实时地设计调整工作参量，可以在航道勘测中测量河（海）底的浮泥厚度，也可以测量在海上油田钻井中的基岩深度和厚度。因而是一种在海洋地质调查，地球物理勘探和海洋工程，海洋观测、海底资源勘探开发，航道港湾工程，海底管线铺设广泛应用的仪器。
技术指标
（1）工作频率：1～16kHz；技术特点
该仪器在地层分辨率和地层穿透深度方面有较高的性能，并可以任意选择扫频信号组合，现场实时地设计调整工作参量，可以在航道勘测中测量河（海）底的浮泥厚度，也可以测量在海上油田钻井中的基岩深度和厚度。因而是一种在海洋地质调查，地球物理勘探和海洋工程，海洋观测、海底资源勘探开发，航道港湾工程，海底管线铺设广泛应用的仪器。
应用领域和范围
海洋地质调查，地球物理勘探和海洋工程，海底资源勘探，水库、河道清淤，海底路由调查、管道铺设，河道、水库清淤。
专利状态
已取得专利1项
技术状态
小批量生产、工程应用阶段
合作方式
合作开发、技术服务、融资需求
投入需求
500万元
转化周期
1年
